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产品详情
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PLI弱吸收测试仪
- PLI弱吸收测试仪（Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument）是一款基于热透镜效应设计，对激光光学元件的弱吸收具有很高的灵敏度的测试仪器。
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PLI弱吸收测试仪
中文名 PLI弱吸收测试仪
英文 Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument （PLI）
产品原理
PLI弱吸收测试仪（Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument）是一款基于热透镜效应设计，对激光光学元件的弱吸收具有很高的灵敏度的测量仪器。
使用一束泵浦光辐照样品，由于吸收激光束能量，样品内部产生热量，形成了一定的温度分布，产生表面形变或体内折射率梯度分布，形成了一个类似于透镜的效果。用另一束探测激光光束检测被测样品表面形变或者折射率梯度变化，从光电探测器收集到的信号变化经锁相放大器处理，提取出与吸收相关的信息。通过对光热信号幅值标定和软件计算，最终可以得到被测样品的吸收值。
基于以上原理，推出的AG凯发K8国际PLI 100弱吸收测试仪，具有以下特点：
● 选用AG凯发K8国际科技优质光学元件，以最优的价格选配最佳的光学元件，提升PLI系统性能
● 功能丰富的测量软件集成了各组成系统的控制，直观易用的操作页面可在过程中同步观察测量结果
● 可根据需求定制多泵浦光源的检测系统，实现一维、二维吸收及分布的测量
产品参数
|
光源 |
泵浦光源：1064 nm、532 nm、355 nm，或其他定制波长 探测光源：He-Ne 激光 |
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测量精度 |
1 ppm |
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样品尺寸 |
最小尺寸：2 x 2 x 2 mm3 圆形、方形样品均适用 |
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测试速度 |
薄膜吸收＜1min |
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测量功能 |
一维深度逐点扫描 一次性进行表面（膜层）吸收和体（基板）吸收的区分测量 可根据需求定制单、双、三测量通道，二维吸收分布扫描 |
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电源要求 |
100-240 VAC，50/60 Hz |
|
产品尺寸 (L×W×H) |
主机 960×635×380 mm3 机柜 835×550×700 mm3 |
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注意事项 |
高精密光学仪器，建议在稳定的光学平台上使用，安装在超净间环境 使用时，请佩戴激光防护眼镜，保障实验室与操作人员安全 |
应用领域
● 可应用于光学、晶体材料吸收、光学薄膜吸收、表面缺陷分析（抛光、镀膜工艺辅助改善、胶合/键合质量分析等）
测试实例
Nd:YVO4晶体基体吸收
LBO晶体基体吸收
KTP晶体基体吸收
TGG晶体基体吸收
薄膜吸收
二维扫描实例
产品详情
PLI弱吸收测试仪
中文名 PLI弱吸收测试仪
英文 Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument （PLI）
产品原理
PLI弱吸收测试仪（Photothermal-Lensing Absorption Measuring Instrument）是一款基于热透镜效应设计，对激光光学元件的弱吸收具有很高的灵敏度的测量仪器。
使用一束泵浦光辐照样品，由于吸收激光束能量，样品内部产生热量，形成了一定的温度分布，产生表面形变或体内折射率梯度分布，形成了一个类似于透镜的效果。用另一束探测激光光束检测被测样品表面形变或者折射率梯度变化，从光电探测器收集到的信号变化经锁相放大器处理，提取出与吸收相关的信息。通过对光热信号幅值标定和软件计算，最终可以得到被测样品的吸收值。
基于以上原理，推出的AG凯发K8国际PLI 100弱吸收测试仪，具有以下特点：
● 选用AG凯发K8国际科技优质光学元件，以最优的价格选配最佳的光学元件，提升PLI系统性能
● 功能丰富的测量软件集成了各组成系统的控制，直观易用的操作页面可在过程中同步观察测量结果
● 可根据需求定制多泵浦光源的检测系统，实现一维、二维吸收及分布的测量
产品参数
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光源 |
泵浦光源：1064 nm、532 nm、355 nm，或其他定制波长 探测光源：He-Ne 激光 |
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测量精度 |
1 ppm |
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样品尺寸 |
最小尺寸：2 x 2 x 2 mm3 圆形、方形样品均适用 |
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测试速度 |
薄膜吸收＜1min |
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测量功能 |
一维深度逐点扫描 一次性进行表面（膜层）吸收和体（基板）吸收的区分测量 可根据需求定制单、双、三测量通道，二维吸收分布扫描 |
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电源要求 |
100-240 VAC，50/60 Hz |
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产品尺寸 (L×W×H) |
主机 960×635×380 mm3 机柜 835×550×700 mm3 |
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注意事项 |
高精密光学仪器，建议在稳定的光学平台上使用，安装在超净间环境 使用时，请佩戴激光防护眼镜，保障实验室与操作人员安全 |
应用领域
● 可应用于光学、晶体材料吸收、光学薄膜吸收、表面缺陷分析（抛光、镀膜工艺辅助改善、胶合/键合质量分析等）
测试实例
Nd:YVO4晶体基体吸收
LBO晶体基体吸收
KTP晶体基体吸收
TGG晶体基体吸收
薄膜吸收
二维扫描实例
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